镍的电子束熔炼提纯研究
来源期刊:稀有金属2013年第1期
论文作者:尚再艳 张涛 陈明 朱晓光 刘红宾 何金江
文章页码:116 - 122
关键词:电子束;熔炼;高纯镍;提纯;
摘 要:高纯镍是制造半导体集成电路及微电子行业用电子薄膜材料的原材料。采用电子束熔炼方法制备高纯镍,研究了一次和二次电子束熔炼对高纯镍锭纯度、表面质量和内部铸造缺陷的影响。通过对铸锭宏观形貌的观察和杂质含量的化学分析,发现一次熔炼可将原材料提纯至99.99%,但铸锭仍存在较多宏观铸造缺陷;而二次熔炼充分去除了杂质和气体元素,如Al,Fe,Cu和C,N,O等,最终使镍锭纯度提高至99.995%以上且内部连续一致无集中缩孔、疏松和气孔等缺陷。通过对镍电子束熔炼过程中杂质元素和基体镍的蒸气压的理论计算对比,和对杂质去除率的理论计算,说明了杂质从镍基体分离的方式并验证了化学成分检测的杂质实际去除率。
稀有金属 2013,37(01),116-122
尚再艳 张涛 陈明 朱晓光 刘红宾 何金江
北京有色金属研究总院有研亿金新材料股份有限公司
高纯镍是制造半导体集成电路及微电子行业用电子薄膜材料的原材料。采用电子束熔炼方法制备高纯镍,研究了一次和二次电子束熔炼对高纯镍锭纯度、表面质量和内部铸造缺陷的影响。通过对铸锭宏观形貌的观察和杂质含量的化学分析,发现一次熔炼可将原材料提纯至99.99%,但铸锭仍存在较多宏观铸造缺陷;而二次熔炼充分去除了杂质和气体元素,如Al,Fe,Cu和C,N,O等,最终使镍锭纯度提高至99.995%以上且内部连续一致无集中缩孔、疏松和气孔等缺陷。通过对镍电子束熔炼过程中杂质元素和基体镍的蒸气压的理论计算对比,和对杂质去除率的理论计算,说明了杂质从镍基体分离的方式并验证了化学成分检测的杂质实际去除率。
中图分类号: TF815
作者简介:尚再艳(1975-),女,河南人,硕士,高级工程师;研究方向:高纯电子薄膜材料;张涛(E-mail:zt@grikin.com);
收稿日期:2012-10-25
基金:国家科技部“十二五”国家科技支撑计划项目(2012BAE06B00)资助;
Abstract:
The high purity nickel was a certain raw material used to prepare electron thin-film materials,which were widely applied in the field of integrated circuit and micro-electronics.Adopting the electron beam melting method to prepare high purity nickel,and the effects of the first(EB1) and second(EB2) electron beam melting on the purity,surface quality and inner casting defects of ingot were all investigated.Applying observation of surface morphologies in combination with chemical analysis of impurities content of nickel ingots,it suggested that the purity of nickel could approach to 99.99% along with lots of casting defects through EB1,on the contrary,the EB2 removed the impurities completely(i.e.Al,Fe,Cu and C,N,O etc.),and made the purity exceed above 99.995% companying consistent inner structures without intense shrinkages,porosities and any other casting defects.Analogously,the calculation result of discrepancy of evaporation pressure of impurities and matrix and removal ratio of impurities during electron beam melting,suggested the separation methods of impurities from the matrix nickel,and evidenced the actual removal ratio of impurities inspected by chemical analysis.
Keyword:
electron beam;melting;high purity nickel;purification;
Received: 2012-10-25
随着半导体集成电路、 微电子工业的飞速发展。 镍及其合金靶材广泛用于集成电路中电子、 磁性薄膜的制备, 是现代工业不可或缺的重要材料, 在国民经济、 国防建设及现代化信息化社会中起着极其重要的战略作用。
近年来, 国外相关学者和研究机构开始研究并制备高纯镍如: 日本日矿材料株式会社新藤裕一郎等
国内金川集团股份有限公司李永军等
目前, 电子束熔炼(EBM)作为一种物理方式提纯金属被广泛应用于高纯材料的制备, 其具有高真空、 高能量密度和局部过热等特点, 熔体中饱和蒸气压高的杂质元素会被迅速挥发到气相中并被抽真空带到炉体外达到提纯的目的
本文采用纯度为99.95%的电解镍为原料, 考察了原料中杂质含量较多的元素, 如: Fe, Co, Cu, As, Na, Mg, Al, Si, Ti, 探索了电子束熔炼技术将99.95%电解镍原材料提纯至99.995%以上的熔炼工艺, 将理论计算与杂质元素含量化学分析和对铸锭表观形貌的观察相结合, 为电子束熔炼制备高纯镍锭的提纯机制的研究提供依据。
1 实 验
1.1 熔炼过程
本实验中使用的设备为国外进口电子束熔炼炉, 电子枪功率最高可达300 kW。 设备主要由真空电子枪、 炉体、 水冷铜坩埚、 真空系统( 机械泵、 罗茨泵、 油扩散泵) 、 引锭系统等组成。 观察窗由一层铅玻璃和一片带有狭缝的钢板组成, 熔炼过程中, 钢板高速旋转, 防止镍蒸镀到铅玻璃上影响观察效果。 电子束炉结构如图1所示。
原材料镍采用纯度为99.95% (3N5) 的电解镍板。 实验前, 先将原材料剪切割成窄条和小块, 后将原料表面打磨去除表面氧化皮及脏物, 已清洗的镍料将其置入干燥箱烘干处理后置于电子束炉送料室内; 开启机械泵、 罗茨泵和扩散泵分别对炉体和电子枪抽真空, 约30 min后炉室和枪室真空度分别达到7.7×10-2和7.7×10-3 Pa以下, 随后启动电子枪, 对电子枪进行预热, 设置高压为30 kV, 电流为4 A。 电子束光斑形态为圆形, 以保证电子束在熔炼过程中始终以圆形光斑的状态轰击镍料表面, 保证镍料受热均匀、 稳定。 逐渐增加电子束功率直至电子束所轰击区域的镍料全部熔化并流入水冷铜坩埚内, 随后调整功率至90 kW并开始计时, 熔炼过程中电子束功率保持不变, 待铜坩埚内积聚一定量金属液时开始垂直向下引锭, 以上过程反复进行直至所有原料熔炼完毕。 熔炼完成后缓慢下调功率值直至电子束束斑消失在高纯镍锭的中心处, 电子枪关闭12 h后即可开炉取出一次电子束熔炼镍锭(EB1-Ni)。 EB1-Ni锭出炉取样分析后, 遂将其装炉进行第二次电子束熔炼(EB2-Ni), EB2熔炼工艺与EB1相同。
图1 电子束炉系统示意图
Fig.1 Schematic figure of electron beam furnace system
1.2 杂质元素、 纯度及铸锭内部缺陷分析
熔炼完成后, 在铸锭顶端(最后凝固端)或底端分别取样, 样品经线切割、 机加工和清洗后, 采用当前国际通用的GDMS-VG9000 分析仪(单聚焦辉光放电质谱仪)进行金属杂质元素分析, 每种样品均测量了73种元素, 部分样品进行了复检, 选择杂质元素含量比较高、 对纯度影响较大的, 如Fe, Co, Cu等元素进行分析; 采用LECO设备C, O, N分析仪检测气体杂质含量。 铸锭内部铸造缺陷检测采用观察法, 即采用机加工方法从铸锭直径边缘处向心部车削以观察不同直径处是否存有气孔、 缩孔及夹杂等常见可视铸造缺陷。
2 结果与讨论
2.1 铸锭的宏观组织
如图2所示, 纯度为99.95%的电解镍, 经过真空电子束熔炼并采用循环冷却水强冷真空结晶形成的镍锭。 图2(a)为一次电子束熔炼(EB1-Ni)的镍锭顶端部, 发现存有大量气孔和缩孔缺陷且孔径和深度不一, 表面粗糙度较高、 仍有较多未充分熔化的颗粒在最后凝固时附着在铸锭表面, 如图2(a)中插图所示; 图2(b)是将图2(a)的EB1-Ni进行二次电子束熔炼(EB2-Ni)得到镍锭, 结果表明EB2-Ni顶部光滑无疏松、 气孔、 缩孔等铸造缺陷甚至可以观察到宏观晶粒, 且图2(b)插图表明EB2-Ni表面光滑无夹杂未熔或其他杂质颗粒。 EB2-Ni是将EB1-Ni重新装炉进行电子束熔炼, 相比之下EB2过程能够充分除去EB1过程未能去除而被裹入熔体内部从而在凝固过程中形成疏松、 缩孔及气孔等缺陷的气体, 而EB2过程同时也充分去除相比镍蒸气压更大的其他金属杂质。 图2(c)是将图2(b)从边缘(直径Ф200 mm处)加工至Ф153 mm处, 发现表面光滑无任何缺陷; 图2(d)是将(c)继续加工至Ф66 mm处的表面情况, 亦发现无任何疏松、 气孔、 缩孔(图中白色小点为车加工用乳白色切削润滑液)。 因此, 从镍锭表观形貌可认为电子束熔炼能最大限度地去除原材料中气体含量, 避免大量气体在铸锭凝固初期形核, 并在随后连续冷却过程中长大而形成疏松、 气孔、 缩孔等铸造缺陷。
2.2 镍锭电子束熔炼杂质去除机制分析
真空电子束熔炼镍锭过程可描述如下: 原材料电解镍在真空条件下受到高速、 高能量电子束流轰击金属表面, 随后温度逐渐升高直至金属熔化, 同时使得蒸气压大于基体镍的杂质元素挥发除去, 蒸气压小的元素存留于熔体中, 这就是电子束熔炼提纯的依据。 杂质元素与基体的蒸气压相差越大, 提纯的效果越好。 而熔化后的真空精炼, 其优点在于不引入其他杂质的前提下去除镍基体中的杂质元素。 因此, 当在高真空环境下(1×10-4以上)电子束熔炼99.95%电解镍时, 原料中熔点和沸点低于基体镍的杂质元素饱和蒸气压一般都高于镍基体(如Cu, Mg, Al等), 因此将优先挥发使基体中杂质含量减少, 达到提纯作用。
在不同精炼温度条件下, 各元素的饱和蒸气压不同。 为确定合适的真空电子束熔炼工艺, 首先要计算得到各元素饱和蒸气压随温度变化的规律,然后才能研究在某一特定的电子束功率条件对杂质去除效果的影响。 镍熔体中各元素的饱和蒸气压可根据式(1)计算:
图2 电子束熔炼镍铸锭的宏观组织和内部不同直径处表面质量
Fig.2 Macrostructure of cross section and inner surface quality in different diameter of nickel ingot prepared by electron beam melting
(a)EB1-ingot;(b)EB2-ingot;(c)Ф153 mm;(d)Ф66 mm
lgp=A·T-1+B·lgT+C·10-3·T+D (1)
式中, p为压强, T为温度, A, B, C, D为常数。 查热力学手册得到A, B, C, D值
由图3可知, 电解镍中杂质元素的蒸气压随熔体温度的提高而增大, 但是随着温度的继续升高, 杂质的蒸气压升高的趋势逐渐趋于平缓。 所以, 可根据计算结果推测: 电子束熔炼时控制电子束功率(200 kW)使熔体温度控制在2000 K以下, 金属杂质元素, 如Fe, Al和Cu等就会较好的挥发并在真空负压中不断除去, 而功率过高则使基体镍的挥发增加, 提纯能耗增加, 过低则不利于杂质的蒸发去除。
2.3 铸锭化学成分检测
由上所述, 从镍锭表观形貌(外表面、 横断面和内部表面质量)和电子束熔炼镍过程中各杂质元素与基体镍蒸气压计算的对比结果(图3), 可知镍中的主要金属杂质元素如Fe, Al和Cu都略高于或接近Ni的蒸气压, 可推测其都在电子束高速度、 高密度和高能量的强烈轰击下得到明显的降低, 并最终起到提纯电解镍的作用, 因此电子束熔炼具有良好的除杂与脱气效果。 仅通过宏观形貌和理论分析机制推测电子束熔炼镍时可有效去除电解镍中本身含量较多的Fe, Al和Cu杂质含量略显证据不足。
图3 镍中杂质元素饱和蒸气压随熔体温度的变化
Fig.3 Variation of saturated vapor pressure of impurities as function of melt temperature for nickel ingot
因此分别选取原材料电解镍、 EB1-Ni和EB2-Ni大量样品进行杂质元素含量的质谱(GDMS)分析并对分析结果取平均值, 如表1和图4所示。
如图4所示, 为表1中杂质元素分析值的对比结果, 图4(a)为Fe, Co和Cu杂质元素在3种样品中含量的平均值, 表明EB2-Ni中3种元素含量都较电解镍和EB1-Ni要低, 其中Fe最为明显, 降幅达98%左右, 而Co和Cu也在50%~60%; 图4(b)为Mg, Al, Si, Ti元素在3种样品中含量的平均值, 结果表明EB2中此4种元素均有大幅度降低, 总含量微乎其微; 图4(c)为As, Nb, Ta元素含量平均值的变化, 结果表明EB2中相比电解镍和EB1均有所降低, 而其本身含量也较低。 图4(d)为C, N, O元素含量对比, 表明EB2后其含量降低50%~70%, 其中N最为明显, 电子束熔炼精炼阶段, C, N, O以分子状态附着在不被金属液润湿的界面上或者直接吸附在金属液表面, 以气体夹杂或气泡形式存在于金属液中, 此种形式的气体在金属中以独立的相存在, 随精炼时间的延长而被蒸发去除掉。
因此, 通过对电解镍、 EB1-Ni和EB2-Ni取样分析杂质含量, 其结果与镍锭表观形貌和杂质蒸发理论一致, 表明了电子束熔炼具有除杂和脱气的作用, 最终将低纯度99.95%电解镍提纯至99.995%~99.999%, 甚至更高。
上述内容, 仅表明电解镍经过两次EB后, 得到高纯镍锭, 但对电解镍中主要金属杂质Al, Fe和Cu等在电子束熔炼过程中如何从基体分离未详细证明。 因此, 对镍的电子束熔炼提纯机制进行分析尤为重要。
表1 电解镍与EB镍锭主要杂质成分对比(10-6)
Table 1Comparisons of impurity content in raw nickel material and EB nickel ingot (10-6)
Elements | Fe | Co | Cu | As | Nb | Ta | Ti |
Raw nickel | 29.00 | 10.00 | 16.00 | 5.00 | 0.35 | 0.38 | 0.10 |
EB1-nickel | 1.01 | 7.43 | 4.39 | 1.09 | 0.20 | 0.20 | 0.03 |
EB2-nickel | 0.56 | 5.83 | 2.44 | 0.74 | 0.29 | 0.28 | 0.03 |
Elements | Mg | Al | Si | C | O | N | |
Raw nickel | 0.06 | 0.46 | 0.60 | 73.00 | 47.00 | 16.00 | |
EB1-nickel | 0.01 | 0.28 | 0.15 | 29.55 | 34.73 | 2.00 | |
EB2-nickel | 0.01 | 0.15 | 0.13 | 19.00 | 16.00 | 1.09 |
图4 镍中杂质元素平均含量变化
Fig.4 Variation of average content for different impurities in nickel
(a) Fe, Co, Cu; (b) Mg, Al, Si, Ti; (c) As, Nb, Ta; (d) C, N, O
2.4 镍中杂质Al, Fe和Cu去除的理论分析
如上所述, 由化学成分分析对比发现, 对于镍的EB熔炼其提纯作用主要体现在Al, Fe和Cu等元素在电子束熔炼时从基体的挥发分离。 由表2和图4可知, 经过两次电子束熔炼, 其中杂质Fe从基体的去除率较其他元素达到最高的98%, 因此对杂质Fe如何从基体分离的机制探讨更能反映电子束熔炼的显著提纯作用。
根据气体动力学理论, Langmuir推导了理想真空下溶质通过液相表面挥发出去的速率方程
式中Ji为组元i的挥发通量(mol·m-2·s-1); pi为组元i的蒸气压(Pa); Mi为组元i的原子量(kg·mol-1); R为理想气体常数(J·mol-1·K-1); T为绝对温度(K)。 镍熔体中杂质Fe含量很低, 可以认为其遵循稀溶液的Henry定律, 即
pFe=NFe·γFe·p
式中NFe为熔体中杂质Fe的摩尔分数; γFe为杂质Fe在镍中的活度系数; p
进一步假设电子束熔炼时镍本身的挥发损失没有显著改变熔体中杂质成分, 则在此时间(t)内熔体中杂质Fe的含量变化等于通过表面挥发出去的Fe的量, 即
JFeA=-VρNi/MNi·dNFe/dt (4)
式中A为熔体表面积(cm2); V为熔体积(cm3); ρNi为镍的密度(g·cm-3)。 将(2)和(3)式代入(4)式并积分得到:
其中, NFe0为电解镍中杂质Fe的摩尔分数。
稀溶液中, 组元的摩尔分数可由质量分数表示为N≈Ci·MNi/100Mi
由式(6)可知, 确定γFe, p
根据式(6)和表2相关参数计算, 得到熔体表面温度T和熔炼时间t与杂质Fe的去除率的关系, 如图5所示。 表明不同熔炼时间时, 当熔体表面温度在1400~1700 K时, 此时镍原材料在电子束的轰击下处到半熔化状态, 熔体表面温度较低, 杂质Fe去除率值很小几乎趋于0; 而随着电子束的持续不断轰击, 熔体温度不断升高, 杂质Fe去除率随之急剧增大, 当时间从0.6 ks延长至10.8 ks时, 杂质Fe的去除率达到峰值96%左右, 此时熔体过热至2000 K左右。 而杂质Fe的实际去除率如表1和图4(a)所示的98%(图5圆圈), 因此, 理论模型对于杂质Fe去除率的结果计算与实际化学成分分析并计算得到的去除率近似。
表2 杂质去除率计算用到的参数
Table 2Parameters used in the calculation of impurities removal ratio
Parameters | Value |
Activity coefficient (γFe) | lnγ0Fe(l)=-13200/T+4.10[19] |
Vapor pressure (P0Fe)/Pa | P0Fe=e12.36(1-Tb/T)×1.013×105 |
Boil point (Tb)/K | 3135 |
Melting Time (t)/ks | 0.6-10.8 |
Density (ρNi )/(g·cm-3) | 8.96 |
Surface area (A)/cm2 | 400 |
Weight lost (ΔmNi)/g | 2000 |
Atomic weight of iron (MFe)/(kg·mol-1) | 5.58×10-2 |
Atomic weight of nickel (MNi)/(kg·mol-1) | 5.87×10-2 |
图5 镍中杂质Fe去除率随熔体温度的变化
Fig.5 Variation of removal efficiency of iron as the function of temperature during melting
综上, 通过对电解镍在电子束熔炼过程杂质Fe去除率的理论计算, 其结果与实际分析结果一致, 而其余元素Al和Cu等在电子束熔炼过程中从基体Ni的分离机制也可采用以上理论模型进行预测, 因此为镍电子束熔炼提纯过程中Al, Fe和Cu等含量较多的杂质分离机制提供了物理证据。
3 结 论
采用电子束熔炼电解镍, 二次电子束熔炼相比一次电子束熔炼, 除杂和脱气效果明显; 杂质元素的去除应主要归功于电子束熔炼的特点, 即高速、 高能量、 高束流和稳定的可控性使电解镍得到持续、 均匀一致的高能轰击, 使基体和杂质元素熔化, 并在持续地抽真空中将蒸气压大的杂质从熔体中去除, 随后凝固而获得高纯镍锭。 通过对镍锭杂质含量的检测, 本研究得到如下结论:
1. 金属杂质元素Al, Fe, Cu等去除效果尤为明显, 杂质元素去除率的理论计算结果与杂质含量实测结果相一致。
2. 化学成分检测结果表明Mg, Si, Ti和As, Nb, Ta元素亦降幅明显, 而C, N, O元素也降低50%以上。
3. 通过电子束熔炼并经后续凝固形成的镍锭内部组织致密, 无集中缩孔、 疏松、 气孔和和裂纹等常见铸造缺陷。
参考文献
[18] Lee H G.Chemical Thermodynamics for Metals and Materials[M].London,Imperial College Press,1999.
[19] Morita K,Miki T.Thermodynamics of solar-grade-silicon refi-ning[J].Intermetallics,2003,11:1111.