硅纳米晶微观结构缺陷的高分辨电子显微学研究
来源期刊：功能材料2009年第11期
论文作者：梁文双 王乙潜
关键词：硅纳米晶; 透射电子显微学; 面缺陷; 线缺陷; Si nanocrystals; high-resolution transmission electron microscopy; twinning,stacking faults,dislocations;
摘 要：利用离子注入结合后续高温退火的方法成功地制备出包埋在二氧化硅(SiO_2)基质中的硅纳米晶.利用透射电子显微学对所制备的硅纳米晶(离子注入浓度为3×10~(17)cm~(-2))的微观结构缺陷进行了详细的研究.通过高分辨像分析发现:较大的纳米晶(直径＞6nm)中存在很多面缺陷,主要为孪晶与层错.孪晶包括一次孪晶、二重孪晶、三重孪晶及五重孪晶.层错分为内禀和外禀两种类型,并讨论了内禀层错占多数的原因.除了面缺陷以外,还有一部分纳米晶中存在位错.
梁文双1，王乙潜1
(1.青岛大学,国家重点实验室培育基地,山东,青岛,26607)
摘要:利用离子注入结合后续高温退火的方法成功地制备出包埋在二氧化硅(SiO_2)基质中的硅纳米晶.利用透射电子显微学对所制备的硅纳米晶(离子注入浓度为3×10~(17)cm~(-2))的微观结构缺陷进行了详细的研究.通过高分辨像分析发现:较大的纳米晶(直径＞6nm)中存在很多面缺陷,主要为孪晶与层错.孪晶包括一次孪晶、二重孪晶、三重孪晶及五重孪晶.层错分为内禀和外禀两种类型,并讨论了内禀层错占多数的原因.除了面缺陷以外,还有一部分纳米晶中存在位错.
关键词:硅纳米晶; 透射电子显微学; 面缺陷; 线缺陷; Si nanocrystals; high-resolution transmission electron microscopy; twinning,stacking faults,dislocations;
【全文内容正在添加中】
