叶腊石微结构及其晶体结构缺陷的高分辨透射电镜分析

来源期刊：矿物学报2012年第1期

论文作者：严俊 张俭 胡仙超 姚程 方伟 盛嘉伟

文章页码：65 - 73

关键词：叶腊石;微结构;扫描电镜;高分辨透射电镜;选区电子衍射;

摘    要：采用场发射扫描电镜（FE-SEM）、高分辨透射电镜（HRTEM）结合选区电子衍射（SAED）、X射线粉晶衍射（XRD）及X射线荧光光谱（XRF）等对浙江青田叶腊石的微结构特征进行较系统的研究。结果表明:①粉晶X射线衍射证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石粉体选区电子衍射结果吻合,且其伴生矿为石英。②叶腊石微晶体呈"复式板片"构型,且"复式"板片中薄片厚度约为8±2 nm。③在高能电子束辐照下,叶腊石矿物颗粒形貌及晶格结构发生明显的改变,且由此产生晶格膨胀,并最终形成非晶态。