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热蒸发多孔Si/SiO2薄膜的光致发光特性研究

来源期刊:材料导报2018年第S1期

论文作者:赵丽特 范东华 代福 朱慧群 陈毅湛 王忆 罗仁华

文章页码:50 - 53

关键词:薄膜;多孔;Si/SiO2;光致发光;能隙态模型;

摘    要:本工作采用热蒸发法制备了多孔Si/SiO2薄膜,利用拉曼、红外、XRD研究了薄膜的结构,SEM研究了表面形貌,使用光致发光(PL)谱对其发光特性进行了研究。结果表明,激发波长为325nm(2.88eV)时,样品的峰位分别在430nm(2.88eV)、441nm(2.81eV)、523nm(2.47eV)、554nm(2.24eV),激发波长为488nm时,峰位在570nm(2.18eV),采用施主态Si悬挂键≡Si 0位于2.81eV,受主态Si悬挂键≡Si-位于3.00eV处,引入SiOx(x小于2)和Si-O-Si缺陷态能级,能级分别为5.05eV和0.63eV,建立了Si/SiO2薄膜的能隙态(EGS)模型,并讨论了其发光机制。

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热蒸发多孔Si/SiO2薄膜的光致发光特性研究

赵丽特,范东华,代福,朱慧群,陈毅湛,王忆,罗仁华

五邑大学应用物理与材料学院

摘 要:本工作采用热蒸发法制备了多孔Si/SiO2薄膜,利用拉曼、红外、XRD研究了薄膜的结构,SEM研究了表面形貌,使用光致发光(PL)谱对其发光特性进行了研究。结果表明,激发波长为325nm(2.88eV)时,样品的峰位分别在430nm(2.88eV)、441nm(2.81eV)、523nm(2.47eV)、554nm(2.24eV),激发波长为488nm时,峰位在570nm(2.18eV),采用施主态Si悬挂键≡Si 0位于2.81eV,受主态Si悬挂键≡Si-位于3.00eV处,引入SiOx(x小于2)和Si-O-Si缺陷态能级,能级分别为5.05eV和0.63eV,建立了Si/SiO2薄膜的能隙态(EGS)模型,并讨论了其发光机制。

关键词:薄膜;多孔;Si/SiO2;光致发光;能隙态模型;

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