ICP-AES用于铋系超导体块材及薄膜的组分分析
来源期刊：分析试验室1993年第6期
论文作者：赵玉珍
文章页码：67 - 69
关键词：ICP-AES;超导薄膜;Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-O;
摘 要：本文研究了一个简便、快速的用ICP-AES测定Bi（Pb）SrCaCuPbO、Bi（Pb,sb）Sr-CaCuO、Bi（Pb,Y）SrCaCuO超导体块材及薄膜中Bi、Pb、Sb、Y、Sr、Ca、Cu含量的方法。样品溶解在50%HCI及50%HNO3的混合酸中,直接引入等离子体光谱中进行测定。对共存元素的相互干扰及基片成分的干扰进行了研究。分析了大量样品,给出了各组分的挥发情况及Pb的挥发量与烧结温度的关系。
赵玉珍
中国科学院物理研究所 北京100080
摘 要：本文研究了一个简便、快速的用ICP-AES测定Bi（Pb）SrCaCuPbO、Bi（Pb,sb）Sr-CaCuO、Bi（Pb,Y）SrCaCuO超导体块材及薄膜中Bi、Pb、Sb、Y、Sr、Ca、Cu含量的方法。样品溶解在50%HCI及50%HNO3的混合酸中,直接引入等离子体光谱中进行测定。对共存元素的相互干扰及基片成分的干扰进行了研究。分析了大量样品,给出了各组分的挥发情况及Pb的挥发量与烧结温度的关系。
关键词：ICP-AES;超导薄膜;Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-O;
