P型半导体金刚石膜的磁阻
来源期刊:功能材料与器件学报2001年第3期
论文作者:马勇 王万录 廖克俊 方亮 王蜀霞 孔春阳
关键词:磁阻; 金刚石膜; 形状效应; 电导率;
摘 要:研究了p-型异质外延和同质外延金刚石膜的在不同温度和磁场下的磁阻,磁阻器件的结构为条形和圆盘形。实验结果表明磁阻强烈依赖于磁场、温度和样品的几何形状,圆盘结构的磁阻大于条形结构,条形结构的磁阻还取决于不同的长-宽比。利用F-S薄膜理论,计算磁场为5T时条形和圆盘结构的磁阻分别为0.38和0.74,讨论了霍耳效应对磁阻的影响,给出了形状效应的可能机制。
马勇1,王万录2,廖克俊2,方亮1,王蜀霞2,孔春阳2
(1.重庆师范学院物理系,;
2.重庆大学理学院应用物理系,)
摘要:研究了p-型异质外延和同质外延金刚石膜的在不同温度和磁场下的磁阻,磁阻器件的结构为条形和圆盘形。实验结果表明磁阻强烈依赖于磁场、温度和样品的几何形状,圆盘结构的磁阻大于条形结构,条形结构的磁阻还取决于不同的长-宽比。利用F-S薄膜理论,计算磁场为5T时条形和圆盘结构的磁阻分别为0.38和0.74,讨论了霍耳效应对磁阻的影响,给出了形状效应的可能机制。
关键词:磁阻; 金刚石膜; 形状效应; 电导率;
【全文内容正在添加中】