X荧光滤纸片薄样法测定铅锌矿选矿流程样中Pb、Zn、Cu、Fe

来源期刊：分析试验室1996年第1期

论文作者：殷秀文 郝贡章

关键词：XRFA;滤纸片薄样法;选矿流程样;Pb、Zn、Cu、Fe测定;

摘    要：本法将Ｘ荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组份的铅锌矿选矿样品中Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ的分析，样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上，标准样品可直接用纯试剂人工配制，用同样制成滤纸片薄样标准系列，因薄样测定可不作基体效应校正，标样使用数量少，又无需化学法标定，故方法实验周期短，样品测定手续简便快速，元素分析含量适应范围宽，可适用于组分复杂，元素含量变化范围大的试样分析。样品分析结果与化学法相符，方法准确度与精密度均能满足选矿样品分析的要求。