Ti-2Al-2.5Zr合金N+离子注入表面XPS和XRD分析

来源期刊:中国有色金属学报2001年第z2期

论文作者:王治国 祖小涛 封向东 牟云峰 林理彬 李燕伶 黄新泉

文章页码:207 - 210

关键词:Ti-2Al-2.5Zr合金; N+离子注入; XRD; XPS

Key words:Ti-2Al-2.5Zr alloy; N+ ion implantation; XPS; XRD

摘    要:Ti-2Al-2.5Zr合金中注入能量为 75keV的N+ 离子 ,注入剂量为 3× 1017/cm2和 8× 1017/cm2 ,注入过程样品的温度低于 200℃。N+ 离子在Ti-2Al-2.5Zr合金中的射程借助TRIM 96程序计算为 1222 。注入后的样品用X射线衍射方法 (XRD)以及光电子能谱方法 (XPS)进行分析。XRD衍射谱表明有新相生成 ,经分析为TiN和TiO2 ,但这些新相的峰非常微弱 ,很难区分。XPS宽程扫描谱表明注入后样品表面主要为Ti,C ,N和O。XPS关于Ti2p和N 1s窄程扫描谱表明N+ 离子注入后在合金表面确实形成了TiN和TiO2

Abstract: Ti-2Al-2.5Zr alloys were implanted with 75 keV N + ions at temperature lower than 200 ℃ with implanting dosage of 3×1017/cm2 and 8×1017/cm2. The projected range was about 1 222 calculated by TRIM 96 program. The implanted samples were analyzed using X ray diffractometer (XRD) and X ray photoelectron spectrometer (XPS). The X ray diffraction patterns show that the peaks correspond to new phases, TiN and TiO2 after N+ ion implantation. But the peaks for the phases are small and difficult to distinguish. XPS surveys show there are Ti, C, N and O. High resolution XPS collections of the Ti2p and N1s binding energy show that TiN and TiO2 are formed after N+ ion implantation.

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