纳米粉末 ZrO2-CeO2-La2O3的XRF分析研究
来源期刊：无机材料学报1999年第6期
论文作者：陶光仪 吉昂 刘尚华
关键词：纳米粉; 荧光强度; 粉末压片; 团聚效应;
摘 要：本文用粉末压片法制样, XRF分析纳米粉ZrO2-CeO2-La2O3中主、次量元素, 研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响. 随着粉碎时间的延长和压力的增大, 元素的荧光强度逐步上升, 最后达到一个坪区. 在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉, 其荧光强度却没有明显的差别. 因此认为, 纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素.
陶光仪1，吉昂1，刘尚华1
(1.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050)
摘要:本文用粉末压片法制样, XRF分析纳米粉ZrO2-CeO2-La2O3中主、次量元素, 研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响. 随着粉碎时间的延长和压力的增大, 元素的荧光强度逐步上升, 最后达到一个坪区. 在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉, 其荧光强度却没有明显的差别. 因此认为, 纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素.
关键词:纳米粉; 荧光强度; 粉末压片; 团聚效应;
【全文内容正在添加中】
