ICP-AES测定粗银粉及银阳极板中Se、Sb等杂质元素

来源期刊：分析试验室2007年第S1期

论文作者：彭建军 袁功启 施小英 潘晓玲

文章页码：312 - 315

关键词：ICP-AES;粗银粉;银阳极板;杂质元素;

摘    要：研究用ICP-AES同时测定粗银粉及银阳极板中Se、Sb、Te、Pb、Bi、Au、Fe、Cu和Pd杂质元素的方法。试验以酒石酸作掩蔽剂,突出解决了溶样过程中AgCl对杂质元素的吸附损失,确定了合适的分析线和折衷的仪器分析条件,9个被测元素的检出限为0.002⁰.008μg/mL,相对标准偏差（n=11）为0.50%³.6%,加标回收率为98.57%¹00.5%,可用于粗银粉和银阳极板中杂质元素的测定。