还原、沉淀分离 ICP-AES法测定纯银中20个杂质元素
来源期刊：贵金属2009年第1期
论文作者：王应进 李光俐 方卫 何姣 刘伟
关键词：分析化学; 还原; 沉淀; ICP-AES; 纯银; 杂质元素.;
摘 要：采用还原、沉淀分离ICP-AES法测定纯银中20个杂质元素:Al、As、Au、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、 Mg、 Mn、 Ni、Pb、Pt、Pd、Sb、Se、Sn、Te和Zn.方法的相对标准偏差(RSD)和加标回收率分别为0.9%～6.9%和93%～108%;方法准确、快速、简便,已用于纯银中杂质元素的分析.
王应进1，李光俐1，方卫1，何姣1，刘伟1
(1.贵研铂业股份有限公司,云南,昆明,650106)
摘要:采用还原、沉淀分离ICP-AES法测定纯银中20个杂质元素:Al、As、Au、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、 Mg、 Mn、 Ni、Pb、Pt、Pd、Sb、Se、Sn、Te和Zn.方法的相对标准偏差(RSD)和加标回收率分别为0.9%～6.9%和93%～108%;方法准确、快速、简便,已用于纯银中杂质元素的分析.
关键词:分析化学; 还原; 沉淀; ICP-AES; 纯银; 杂质元素.;
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