石墨烯常用表征方法

来源期刊：理化检验物理分册2018年第2期

论文作者：陈政龙 潘恒沛 高灵清 杨晓 郭海霞

文章页码：89 - 97

关键词：石墨烯;表面形貌;片层数量;缺陷;官能团;表征;

摘    要：使用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、拉曼光谱仪(RS)、原子力显微镜(AFM)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)以及傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)等仪器设备,对3组氧化石墨还原法和物理法制备的石墨烯粉末以及3组化学气相沉淀(CVD)法制备的石墨烯薄膜试样的表面形貌、片层数量、缺陷情况以及官能团等进行了表征。通过试验结果的对比分析发现:SEM在石墨烯表面形貌分析方面最具优势;RS能够很好地测定石墨烯薄膜的片层数量,而对于石墨烯粉末,AFM则更为适用;石墨烯缺陷情况分析方面,RS相比于其他方法具有明显优势,能够对缺陷密度和类型进行计算和判定;XPS不仅能够测试官能团的种类,还能够对其进行定量分析,是石墨烯中官能团表征的有效手段。