X射线荧光光谱法测定哈氏C-276合金中10种元素

来源期刊：分析试验室2018年第1期

论文作者：许倩影 周松 任筱筠 欧文永 向祥蓉

文章页码：69 - 73

关键词：X射线荧光光谱;C-276合金;基体校正;

摘    要：采用X射线荧光光谱法,可实现同时测定C-276合金中Si,Mn,P,Cr,Fe,Mo,W,V,Co,Cu,方法简便快速,便于生产过程控制和产品分析。采用成分相近的17种标准物质建立工作曲线,优化了测量条件并进行谱线重叠校正和元素间的吸收和增强效应的校正,各元素含量与测量强度均能呈现良好的线性关系。用于C-276合金中各元素的测定,具有良好的精密度,测定值与分光光度法、容量法、重量法等标准方法测定结果显示较好的一致性。为建立X射线荧光光谱法测定镍基合金成分提供了思路,为研究X射线荧光光谱分析镍基合金的干扰提供事实依据。