X射线荧光光谱法测定镍铬合金中15种元素
来源期刊:冶金分析2013年第10期
论文作者:陆晓明 金德龙 胡莹
文章页码:49 - 55
关键词:X射线荧光光谱法;二元合金;基体校正;高频熔融;镍铬合金;
摘 要:建立了X射线荧光光谱法测定镍铬合金中镍、铬、钼、磷、硫、钒、铝、硅、锰、铜、钛、铌、钴、铁、钨的快速检测方法,采用二元合金样品求得的校正系数对镍铬合金中元素间的谱线重叠干扰进行校正,理论α系数校正元素间的吸收和增强效应。试验了不同的砂带粒度和材质研磨样品时对元素测定的影响,结果表明砂带的粒度影响测定结果的准确性,使用含有待测元素材质的砂带会导致该元素测定结果偏高,因此实验时应确保建立校准曲线的标准样品和待测样品的表面处理条件一致,此外,还应考虑使用的砂带材质是否对测定元素有污染。方法用于测定镍铬合金中镍、铬、钼时的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为0.15%、0.17%、0.22%,其他元素均显示较好精密度;测定值与其他方法测定结果显示较好的一致性。
陆晓明,金德龙,胡莹
宝山钢铁股份有限公司研究院
摘 要:建立了X射线荧光光谱法测定镍铬合金中镍、铬、钼、磷、硫、钒、铝、硅、锰、铜、钛、铌、钴、铁、钨的快速检测方法,采用二元合金样品求得的校正系数对镍铬合金中元素间的谱线重叠干扰进行校正,理论α系数校正元素间的吸收和增强效应。试验了不同的砂带粒度和材质研磨样品时对元素测定的影响,结果表明砂带的粒度影响测定结果的准确性,使用含有待测元素材质的砂带会导致该元素测定结果偏高,因此实验时应确保建立校准曲线的标准样品和待测样品的表面处理条件一致,此外,还应考虑使用的砂带材质是否对测定元素有污染。方法用于测定镍铬合金中镍、铬、钼时的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为0.15%、0.17%、0.22%,其他元素均显示较好精密度;测定值与其他方法测定结果显示较好的一致性。
关键词:X射线荧光光谱法;二元合金;基体校正;高频熔融;镍铬合金;