化学光谱法测定高纯水和高纯化学试剂中的杂质元素
来源期刊：分析试验室1987年第7期
论文作者：王在中
文章页码：11 - 14
摘 要：采用挥发法分离主体,以溶液干渣化学光谱法测定了高纯水和高纯试剂中20余个杂质元素,测定下限在0.1—3ppb,变异系数在l1—27%范围内。本方法可用于高纯水和高纯试剂或MOS试剂中ppb级杂质元素的测定。
王在中
江苏省化工研究所
摘 要：采用挥发法分离主体,以溶液干渣化学光谱法测定了高纯水和高纯试剂中20余个杂质元素,测定下限在0.1—3ppb,变异系数在l1—27%范围内。本方法可用于高纯水和高纯试剂或MOS试剂中ppb级杂质元素的测定。
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