压力溶样-化学光谱法测定高纯锗中杂质元素
来源期刊：分析试验室1985年第3期
论文作者：潘鸿器
文章页码：18 - 20
摘 要：<正> 金属锗中多种杂质元素的同时测定方法主要有光谱法、中子活化法和化学光谱法。其中化学光谱法的相对灵敏度高于直接光谱法,该法尽管对某些元素的相对测定灵敏度不如中子活化法,但比活化法成本低、简便、分析周期短,因此,是测定高纯锗中杂质元素的重要手段之一。和等曾用王水分解锗试样,然后使主体呈四氯化锗形式蒸馏除去,再进行光谱测定的化学光谱法,测定下限达10-5—10-6%。本文将试样改在聚四氟乙
潘鸿器
北京有色金属研究总院
摘 要：<正> 金属锗中多种杂质元素的同时测定方法主要有光谱法、中子活化法和化学光谱法。其中化学光谱法的相对灵敏度高于直接光谱法,该法尽管对某些元素的相对测定灵敏度不如中子活化法,但比活化法成本低、简便、分析周期短,因此,是测定高纯锗中杂质元素的重要手段之一。和等曾用王水分解锗试样,然后使主体呈四氯化锗形式蒸馏除去,再进行光谱测定的化学光谱法,测定下限达10-5—10-6%。本文将试样改在聚四氟乙
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