TiAl金属间化合物德拜温度与价电子结构
来源期刊：中国有色金属学报1992年第2期
论文作者：王沿东 孙祖庆 陈国良 何崇智
文章页码：44 - 46
关键词：德拜温度 X-射线衍射 金属间化合物 价电子结构
摘 要：用X-射线衍射法测定的TiAl金属间化合物室温下的德拜温度θD为515 K,此值远大于纯铝及纯钛的相应温度值(394及380 K).它预示TiAl金属间化合物成键时的Ti-Ti键及Ti-Al键均有所加强,且与其价电子结构的计算结果相符.此外,还讨论了TiAl德拜温度与其价电子结构及脆韧转变温度的关系。
