全谱直流电弧发射光谱法同时测定钨中19种杂质元素

吴冬梅，赵燕秋，付国余

北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司北京市物质成分分析仪器工程技术研究中心北京市企业技术中心

摘 要：为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程烦琐的问题,实验研究了全谱交直流电弧发射光谱仪测定钨中Al、As、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V共19种杂质元素的方法。用石墨粉、碳酸锂、氧化镓作为光谱缓冲剂,抑制基体蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压,滴加蔗糖溶液的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比。该方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为88%～120%,各元素分析相对标准偏差均小于10%。

关键词：全谱直流电弧发射光谱法;钨;光谱缓冲剂;分段采集;杂质元素;