简介概要

STM及AFM在材料断裂与疲劳研究中的应用

来源期刊：材料导报2000年第10期

论文作者：何则荣毛志远卢洪戴品强

关键词：扫描隧道显微镜; 原子力显微镜; 断裂; 疲劳;

摘要：扫描隧道显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)具有原子级的极高分辨率,可在纳米尺度上获得实空间的表面微观三维形貌,且可定量表征,因此可用来研究材料断裂与疲劳的微观机理.简要介绍STM和AFM在该领域的应用及所取得的若干进展.

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何则荣¹，毛志远²，卢洪¹，戴品强²

(1.福州大学材料科学与工程学院,福州,350002;
2.浙江大学材料科学与工程学系,杭州,310027)

摘要:扫描隧道显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)具有原子级的极高分辨率,可在纳米尺度上获得实空间的表面微观三维形貌,且可定量表征,因此可用来研究材料断裂与疲劳的微观机理.简要介绍STM和AFM在该领域的应用及所取得的若干进展.

关键词:扫描隧道显微镜; 原子力显微镜; 断裂; 疲劳;

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