偏振能量色散X-射线荧光光谱法测定水系沉积物和土壤样品中多种组分
来源期刊：冶金分析2006年第6期
论文作者：李国会 吉昂 张勤 樊守忠
关键词：偏振能量色散X-射线荧光光谱法; 水系沉积物; 土壤; 多元素分析;
摘 要：采用粉末样品压片制样,用偏振能量色散X-射线荧光光谱仪对水系沉积物和土壤样品中多种元素进行测定.除Na,Si和Fe外,其余元素利用经验系数和二级靶的康普顿散射线作内标校正基体效应.分别采用了Al2O3,W,BaF2,CsI,Ag,Rb,Mo,Zr,SrF2,KBr,Ge,Fe,Ti和Al等不同偏振靶(或二级靶)对被分析元素进行选择激发和测定.在总测量时间为2 000 s(每个样品)的条件下,除Na,Mg,Al,Si,P,K等轻元素外,其余各元素的检出限达到0.25～14.80 μg/g.
李国会1，吉昂2，张勤1，樊守忠1
(1.中国地质科学院物化探所,河北廊坊,065000;
2.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050)
摘要:采用粉末样品压片制样,用偏振能量色散X-射线荧光光谱仪对水系沉积物和土壤样品中多种元素进行测定.除Na,Si和Fe外,其余元素利用经验系数和二级靶的康普顿散射线作内标校正基体效应.分别采用了Al2O3,W,BaF2,CsI,Ag,Rb,Mo,Zr,SrF2,KBr,Ge,Fe,Ti和Al等不同偏振靶(或二级靶)对被分析元素进行选择激发和测定.在总测量时间为2 000 s(每个样品)的条件下,除Na,Mg,Al,Si,P,K等轻元素外,其余各元素的检出限达到0.25～14.80 μg/g.
关键词:偏振能量色散X-射线荧光光谱法; 水系沉积物; 土壤; 多元素分析;
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