N型硅压阻系数π11与π12之间关系的理论推导
来源期刊:东北大学学报(自然科学版)1986年第2期
论文作者:李博
文章页码:93 - 96
关键词:压阻系数;N型硅;压阻效应;
摘 要:本文应用能带结构的多谷模型,对N型硅在[100]方向的压阻效应进行了理论分析。当沿N型硅晶体的[100]轴施加压力并分别在[100]和[010]方向加电场时所引起的电导率变化的主要原因是:电子在能谷之间转移时,电子的迁移率发生变化。由此推导出N型硅的纵向压阻系数π11与横向阻压系π12之间的关系是: π12=-1/2π11且π12的符号是“正”,π11的符号是“负”。这一结果与C.S.Smith的实验测量数据吻合。
李博
东北工学院应用物理教研室
摘 要:本文应用能带结构的多谷模型,对N型硅在[100]方向的压阻效应进行了理论分析。当沿N型硅晶体的[100]轴施加压力并分别在[100]和[010]方向加电场时所引起的电导率变化的主要原因是:电子在能谷之间转移时,电子的迁移率发生变化。由此推导出N型硅的纵向压阻系数π11与横向阻压系π12之间的关系是: π12=-1/2π11且π12的符号是“正”,π11的符号是“负”。这一结果与C.S.Smith的实验测量数据吻合。
关键词:压阻系数;N型硅;压阻效应;