压力溶样-光度法测定高纯锗中硅
来源期刊：分析试验室1993年第2期
论文作者：潘鸿器 李凤娥
文章页码：76 - 77
摘 要：<正> 金属锗中硅的测定多采用仪器分析法,如质谱法和中子活化分析。一般厂矿不具备这类条件,需要建立用化学手段测定高纯锗中微量硅的方法。对于微量硅的分析,最为棘手的问题是如何降低试验空白。采用常规方法分解锗,酸的消耗量大,增大空白目环境的污染无法避免
潘鸿器，李凤娥
摘 要：<正> 金属锗中硅的测定多采用仪器分析法,如质谱法和中子活化分析。一般厂矿不具备这类条件,需要建立用化学手段测定高纯锗中微量硅的方法。对于微量硅的分析,最为棘手的问题是如何降低试验空白。采用常规方法分解锗,酸的消耗量大,增大空白目环境的污染无法避免
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