热分解氧化反应对 TiO2电容压敏电阻器性能的影响
来源期刊:无机材料学报2000年第1期
论文作者:武明堂 方湘怡 罗建军
关键词:TiO2电容压敏电阻器; CuO; MnO2; 晶界势垒;
摘 要:研究了具有热分解氧化反应的CuO、MnO2等的一类氧化物对TiO2压敏电阻器性能的影响,采用C-V分析、I-V测量和介电测量等实验手段,分析了它们的作用机理. 结果发现,在晶界处发生的热分解氧化反应能增加界面态密度,提高晶界势垒高度,从而改善TiO2电容压敏电阻器的非线性性能.
武明堂1,方湘怡1,罗建军1
(1.西安交通大学电信学院,西安,710049)
摘要:研究了具有热分解氧化反应的CuO、MnO2等的一类氧化物对TiO2压敏电阻器性能的影响,采用C-V分析、I-V测量和介电测量等实验手段,分析了它们的作用机理. 结果发现,在晶界处发生的热分解氧化反应能增加界面态密度,提高晶界势垒高度,从而改善TiO2电容压敏电阻器的非线性性能.
关键词:TiO2电容压敏电阻器; CuO; MnO2; 晶界势垒;
【全文内容正在添加中】