共搜索到4733条信息，每页显示10条信息，共474页。用时：0小时0分0秒249毫秒
Ln0.5Sr0.5CoO3-δ阴极薄膜材料的XRD和XPS研究 张利文1,丁铁柱1,朱志强1,赵倩1,姜涛1,王强1 (1.内蒙古大学,稀土材料重点实验室,内蒙古,呼和浩特,010021;2.内蒙古科技大学,稀土学院,内蒙古,包头,014010) 摘要:采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆(YSZ)衬底和铝酸镧(LaAlO3)衬底上溅射Ln0.5Sr0.5CoO3-δ(Ln=La ,Pr ,Nd )薄膜.测试了不同工艺制备的Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的XRD谱和XPS谱,研究了不同衬底上Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜微结构及化学状态.结果表明,在YSZ 衬底上制备的Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜氧空位浓度相应的高于在LaAlO3衬底上的氧空位浓度,Nd0.5Sr0.5CoO3-δ /YSZ薄膜的氧空位浓度最高,有利于提高氧离子的输运性. 关键词......
XPS和AES研究ACN复合剂在青铜表面上形成的膜 李大刚1,朱一帆1,徐飞2,万俐2,陶保成2,施兵兵1 (1.南京化工大学材料科学与工程学院,南京,210009;2.南京博物院文物保护研究所,南京,210016) 摘要:采用XPS 和AES 方法,研究含AMT的复合物ACN处理青铜和含粉状锈青铜的形成膜中组成及成分,结果表明膜中含有N,S,C,O和Cu,其中Cu元素以+1价存在,且膜中无Cl元素. 关键词:AMT; XPS; AES; 青铜; [全文内容正在添加中] ......
碳化La2O3-Mo阴极材料的高温XPS研究 周美玲1,张久兴1,王金淑1,左铁镛1,聂祚仁1 (1.北京工业大学,北京,100022) 摘要:采用高温X射线光电子能谱(XPS)对碳化La2O3-Mo阴极材料表面La的价态进行了研究.结果表明,材料中的La2O3可以被Mo2C还原成单质La.单质La的结合能高于La2O3的结合能.从实验上证实单质La3d5/2的结合能为835.96eV,并首次给出单质La3d3/2结合能实验数值为852.23eV. 关键词:镧; 价态; La2O3-Mo; 阴极; 高温XPS; [全文内容正在添加中] ......
分浓度图,研究硅酸钠在萤石白钨矿浮选分离中的作用机理.通过进行纯矿物浮选实验,Zeta电位测试,结合组分浓度图,初步确定硅酸钠在油酸钠浮选分离萤石白钨矿中的主要抑制机理是在萤石表面选择性地生成了硅酸钙沉淀,相关的XPS分析结果进一步证实了这一结论.结果表明,在适量硅酸钠抑制条件下可以选择性地分离萤石和白钨矿,该溶液化学新方法在分析和预测盐类矿物浮选过程中具有很好的实践指导意义. 关键词:硅酸钠；萤石；白钨矿；溶液化学计算；盐类矿物浮选；XPS分析 中图分类号:TD923 文献标志码:A Solution chemistry behavior of sodium silicate in flotation......
Ni-P-CeO2化学复合镀层的XPS和AES分析 王红艳1,周苏闽2 (1.淮阴师院化学系,淮阴223001;2.淮阴工业专科学校化工系) 摘要:运用SEM,AES和XPS分析了Ni-P-CeO2的镀层表面形貌及镀层组成.研究显示,NiP-CeO2镀层表面光滑,均匀,光洁度好,其相对原于摩尔分数分别为Ni75.51%,P13.37%,Ce2.71%,O6.81%和Fe1.38%.镀层厚度为6.0Pm,耐100g·L-1NaCl溶液和1%(体积分数)H2S气体的腐蚀能力较强. 关键词:化学复合镀; Ni-P-CeO2; 组成; 耐蚀性; [全文内容正在添加中] ......
ZnS薄膜的溅射沉积及其XPS研究 龚海梅1,汤定元1,周咏东2,李言谨1,方家熊1 (1.中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;2.苏州大学物理系,苏州215006) 摘要:用Ar+束溅射沉积技术在HgCdTe表面实现了ZnS的低温沉积．用 X射线光电子能谱(XPS)对上述ZnS薄膜以及热蒸发ZnS薄膜中的Zn,S元素的化学环境进行了对比实验研究．实验表明:离子束溅射沉积ZnS薄膜具有很好的组份均匀性,未探测到元素Zn,S的沉积． 关键词:ZnS; 离子束溅射沉积; XPS; HgCdTe; 表面抗反射膜; ZnS; ion beam sputtering deposition technique; XPS; HgCdTe; surface anti-reflection coat; [全文内容正在添加中] ......
XPS STUDY OF SUPERCONDUCTING Dy-Ba-Cu-Fe-O CERAMICS赵青南,张谷兰摘 要:<正>The system DyBa2Cu3-xFexO7-δ(x=0.00,0.03,0.18)has been studied using X-ray photoelectron spec-troscopy.XPS results show no evidence valency state of Cuother than 2 in samples whether Fe-doped or not.Significantchanges in the O1s spectra were found with increasing Fe con-tent.It seems......
NdCl3-FeCl3-石墨层间化合物的XPS研究 侯仰龙1,韦永德1 (1.哈尔滨工业大学稀土材料工程中心,黑龙江,哈尔滨,150001) 摘要:通过熔盐交换法合成了NdCl3-FeCl3-GIC, 采用X射线电子能谱(XPS)分析插入剂在石墨层间的存在形式, 并测定了试样中Nd, Fe, Cl和C的相对含量. NdCl3-FeCl3-GIC中Fe 2p的结合能为711.20~710.3 eV, Nd 3d的结合能为983.20~983.08 eV, 并发现Fe在石墨层间以Fe3+, Fe2+形式存在. 关键词:稀土; 氯化钕; 石墨层间化合物; X光电子能谱; [全文内容正在添加中] ......
Ti-42Al-8Nb合金氧化膜的XPS研究刘杰,薛祥义西北工业大学凝固技术国家重点实验室摘 要:以Ti-42Al-8Nb(at%)合金为研究对象,将其置于900℃空气气氛中氧化20 h,重点采用XPS手段对合金表面氧化膜结构,相组成及成分分布进行了分析.结果表明:合金经20 h氧化后,XRD结果显示氧化膜主要由Al2O3和Ti O2混合物组成,而经XPS结果分析可知氧化膜最外层只有Ti O2一种物质,次外层由Al2O3,3种不同价态的Ti氧化物及少量Ti N组成,且沿基体到外表层的方向,Ti的高价氧化物含量逐渐增多,最外表面只有Ti O2,另外2种低价Ti氧化物含量为零,说明整个系统通过O原子的溶解,扩散完成氧化过程,导致氧化反应随时间和样品深度发生阶段性变化,从而使氧化膜沿深度方向表现出物质种类及......
DAST晶体XPS数据分析基准的讨论蔺娴,李雨辰,王鑫中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心摘 要:为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体,吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析.通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准.结果表明,DAST晶体中的C,N,O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50eV)作为基准,校准数据后分析C,N元素,其结果是合理的.关键词:DAST;晶体;XPS;数据分析;基准;......
