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(1)操作步骤 1将电源线, 电缆线插头分别和控制箱, 机头, 高压发生器及冷却系统等牢固连接, 保证接触良好. 2检查所使用的电源电压是否为220 V, 并观察其稳定性, 如波动较大, 波动范围超过±10%额定电压时, 需加设一个调压器或稳压器. 3将控制箱上的接地线与外接接地插头连接好, 保证可靠接地. 4认真训机, 保证X射线管良好的使用状态, 以便延长射线机的使用寿命. 5按要求划线, 贴片, 调整管电压和曝光时间, 准备曝光. 6按下高压通开关, 高压显示灯和毫安指示灯同时闪亮, 开始曝光.曝光时计时器显示倒计时, 当计时器显示为0时, 曝光结束.蜂鸣器响起, 红灯熄......
1)探伤前的准备 根据检验对象和质量要求合理选择射线源, 胶片, 增感屏.按照标准规定采用线型像质计来衡量照相技术与胶片处理质量.同时考虑设备的安全, 工作环境和射线的防护. 2)透照布置 透照布置是指射线源, 工件, 像质计及胶片位置间的几何关系, 布置的基本原则是使射线照相能有效地对缺陷进行检验, 主要考虑的是灵敏度和黑度应符合有关标准规定的要求.铜及铜合金铸件和焊接件的主要透照布置如表8-6所示. 表8-6 典型铜合金产品的主要透照相布置 3)透照参数的确定 选择合适的管电压, 管电流, 曝光时间及射线源至胶片之间的距离等参数.通常在保证能穿透工件的前提下, 尽量采用较低的能量, 以提高射线照相灵敏度; 焦距确定时必须考虑满足射线照相对几何不清晰度的规定, 一般采用固定焦距进行透照, 如600mm焦距, 曝光量必须达到一定的大小, 才能保证小细节影......
射到物质上的核辐射所产生的次级辐射称为次级荧光射线(如特征X射线), 荧光射线的能谱和强度与物质的成分, 厚度及密度等有关.利用荧光效应可以检测覆盖层厚度, 物质成分, 密度和固体颗粒的粒度等参数.荧光式材料成分分析仪具有分析速度快, 精度高, 灵敏度高, 应用范围广, 成本低, 易于操作等优点, 已经得到广泛应用. 能量色散X射线荧光成分分析仪是根据初级射线从样品中激发出来的特征X射线荧光对材料成分进行定性分析和定量分析的.即初级射线从样品中激发出来的多种能量的各组成元素的特征X射线射入探测器, 该探测器输出一个和射入其中的X射线能量成正比的脉冲, 这些脉冲输给脉冲高度分析器, 定标器......
利用X光粉晶衍射仪方法,可测定钾长石K[AlSi3O8]的三斜度(Δ),来确定岩浆岩的成因.所谓钾长石的三斜度(Δ),就是指钾长石偏离单斜的对称程度.测量钾长石三斜度的方法有多种,最常用的方法是利用X光粉晶衍射数据中d131和d131的差值,依下列公式计算: Δ=12.5×(d131-d131). 如果钾长石属单斜晶系,其对称特点必然使粉晶衍射数据的d131和d131衍射线重合,其结果三斜度(Δ)必为零.当钾长石向三斜晶系过渡,则其对称特点必然使d131和d131两衍射线不相重合而分离,如果是最大微斜长石,则(d131-d131)为最大,达0.08埃,Δ=1,从Δ值的测定,可以推知该微斜长石有序度高低,因为钾长石有序度的增高,说明形成温度逐渐降低,由此测定钾长石的三斜度,可帮助解决岩浆岩的成因问题.据一般资料所知,当钾长石的三斜度Δ=0.2-0.4,属火山成因的花岗岩;Δ......
粘土矿物由于粒度较细小,一般小于1微米,故偏光显微镜鉴定无能为力,用X光衍射仪较易区别.例如高岑石具有d001=7.15埃,d002=3.56-3.58埃,d003=2.38埃,衍射峰明显而对称,经各种不同处理后的d001,衍射的d值不变(见表1-9). 表1-9 高岑石d001X射线数据特征 埃洛石(多水高岑石)Al4[Si4O10](OH)8·4H2O因构造层间有层间水,故d001=10.1埃,当在低温(80℃-120℃)下烘干失水的埃洛石,其d001=7.2埃和高岑石的d001相近似,但埃洛石经甘油和乙二醇分子处理后,它能吸附甘油或乙二醇分子,使d001膨胀为11埃......
利用X射线分析法可测定矿物的形成温度和压力,这就是X射线地质温度计和压力计.其基本原理是有限固熔体的类质同象极限是温度和压力的函数.因为在固熔体极限范围内,类质同象混晶的结晶构造其晶胞参数是随着类质同象混入组分含量的变化有规律地连续变化的.因此,只要固熔体极限与温度或压力间的关系以及成分与晶胞参数的关系确定,就可用X射线分析法测定晶胞参数,从而间接地推知矿物晶体形成的温度或压力,这就是X射线地质温度计及压力计. 1.X射线地质温度计:我们知道自然界的闪锌矿(α-ZnS属等轴晶系)属有限类质同象,其中含铁量最高可达 26.2%,其含铁量增加,则晶胞参数α0相应增大.据巴顿(P.Barton)和托尔曼因(P.Toulmin)在1966年给出其间的关系为:a0=5.4093+0.0005637X0.00-0004107X2,式中a0为晶胞参数,单位为埃;X为FeS的分子百分数,因此,按此......
是辽宁省地质局实验室编的,这本手册和米氏手册相似,它收集了960种不常见矿物的1300多张衍射数据表,但常见矿物数据大部未收入,因此在常用工具书中无法查到时,可应用这本X射线鉴定表. ......
(一)代表性 样品一定要有代表性,否则会得出错误结论. (二)粒度大小 一般对称程麦高的样品可稍粗一些(即200目左右),对称程度低的矿物样品,粒度要细一些(即325目左右),手模如面粉,无粒感为宜,一般样品粒度1~10微米合适.过粗会使衍射线变成点线,过细,衍射线宽化,高角区会不出现衍射线等现象发生. (三)重量一般0.2~0.5克左右,采用德拜相机可用低量,当用X光衍射仪法,则样品要求多一些,采用高量为宜. (四)应附矿区的地质资料 简要说明矿物的化学全分析结果(单矿物),矿物共生组合,成因及产状,有无蚀变,及其它红外光谱分析,差热分折,光薄片鉴定资料等,以供鉴定时参考用.......
必须选择电子束聚焦最好直径最小时测量方能达到好的效果,钱清晰地显示出某一种元素在微区中的分布情况,一般常用下列三种方式进行测定: (1)点分析:将电子束固定在所要分析的点上,然后改变分光晶体和探测器的相对位置,即可对比此点内的元素进行定性和定量分析. (2)线分析:将X射线谱仪固定在所需要测量的某一元素位置上,使试样和电子束沿着指定的方向作线扫描运动,即可在显象管荧光屏上或记录仪上,记录下某一元素在某一指定直线上浓度分布情况,即所谓浓度分布曲线. (3)面扫描:利用前面所说的扫描装置,把X射线谱议固定在要测量的某一元素的地方,使电子束在试样表面上扫描,即可在显象管荧光屏上得到元素的面......
X射线光电子能谱 (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) 也被称为化学分析用电子能谱(ESCA),是精确探测薄膜表面或界面几个纳米范围内元素化学状态的一种分析测试技术.XPS分析技术是用X射线去辐射样品,检测由表面出射的光电子来获取表面信息的.在所有表面分析能谱中,XPS获得的化学信息最多,并具有元素定性,定量分析能力,能测定元素在化合物中存在的价态,同时还能感受该元素周围其他元素,官能团,原子团对其内壳层电子的影响所产生的化学位移;此外XPS对样品表面辐射损伤小,能检测除H,He以外周期表中所有的元素,并具有很高的灵敏度.XPS由于其高信息量,对广泛样......