Refractive index at wavelength of 632.8 nm and crystallization degree of titanium oxide films formed under CV mode with potential sweep rate of 0.1 mV/s and different φ<SUB>max</SUB>-图片展示-有色金属在线

Refractive index at wavelength of 632.8 nm and crystallization degree of titanium oxide films formed under CV mode with potential sweep rate of 0.1 mV/s and different φ_max

来源：极低电位下溅射沉积钛表面阳极氧化膜的生长与结晶

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