CdS纳米材料共振瑞利散射测定氧氟沙星的研究

来源期刊：分析试验室2011年第8期

论文作者：赵艳 高楼军 孙雪花 柴红梅

文章页码：77 - 79

关键词：硫化镉纳米材料;氧氟沙星;共振瑞利散射;十二烷基磺酸钠;

摘    要：在表面活性剂十二烷基磺酸钠SDS存在下,硫化镉能与氧氟沙星借静电引力及疏水作用力结合,形成粒径较大的聚集体。这种聚集体的形成导致硫化镉共振散射RRS强度显著增强,最大散射峰位于365nm。在适当条件下,散射强度△I与氧氟沙星浓度成正比,据此提出了硫化镉-氧氟沙星-SDS体系测定氧氟沙星的新方法。方法的线性范围为4.0×10-3～4.0×10-1μg/mL,检出限为2.0×10-4μg/mL。方法可直接用于胶囊中氧氟沙星含量的测定。