电沉积富集制样-X射线荧光光谱法测定痕量Ni、Cd和Pb

来源期刊：分析试验室2011年第2期

论文作者：李强 郑洪涛 王岳赟 朱华兴 汤志勇

文章页码：95 - 98

关键词：X射线荧光光谱法;电沉积;重金属;

摘    要：提出了电沉积富集制样-X荧光光谱法同时测定水样中痕量Ni、Cd和Pb的方法。方法以平整光滑的高纯铜片为基质,采用电解的方法对待测元素进行电沉积富集,然后用X射线荧光光谱仪进行测定。探讨了沉积电压、溶液pH值、电解质浓度、沉积时间等参数对待测元素电沉积富集的影响。方法精密度（RSD）分别为Ni 1.6%、Cd 1.2%和Pb 2.1%;检出限分别为Ni 11.1、Cd 5.7 ng/mL和Pb10.5 ng/mL。方法可应用于环境水样中痕量Ni、Cd和Pb的测定。