薄样技术-能量色散X射线荧光光谱法测定钯铂金
来源期刊：冶金分析2013年第10期
论文作者：邬旭然 韩晓锋 王丽 吕建刚 薛光 田宇纮
文章页码：34 - 39
关键词：Amberlyst A26树脂;金;铂;钯;能量色散X射线荧光光谱法;金矿;铜阳极泥;薄样技术;
摘 要：采用树脂分离富集金矿和铜阳极泥中的Pd、Pt、Au,结合薄样技术,利用自制X射线荧光（XRF）能谱仪同时测定这3种元素。对3种型号树脂进行了选择,确定了Amberlyst A26树脂为分离树脂,并采用单因素法对Amberlyst A26树脂柱高、流速和盐酸浓度进行了优化,确定了最佳实验条件分别为柱高10cm、流速3mL/min和盐酸浓度0.2mol/L。同时对XRF分析方法进行了方法学验证。XRF能谱仪采用Mo靶激发,新型SDD探测器,结合优化的薄样技术,基本消除基体效应,可用内标法定量;仪器检出限（LLD）Pd、Pt、Au分别为0.021、0.019、0.015μg/mL,方法检出限（LDM）分别为0.066、0.062、0.050μg/mL;采用11种元素的混合标准测得RSD在1.6%7.5%之间。所测金矿样品的结果与国标法结果一致,铜阳极泥的测定结果与ICP-MS法结果基本一致。
邬旭然1,2，韩晓锋1,2，王丽1,2，吕建刚1,2，薛光2，田宇纮1
1. 烟台大学化学化工学院2. 山东黄金工程技术研究中心(工业应用)
摘 要：采用树脂分离富集金矿和铜阳极泥中的Pd、Pt、Au,结合薄样技术,利用自制X射线荧光（XRF）能谱仪同时测定这3种元素。对3种型号树脂进行了选择,确定了Amberlyst A26树脂为分离树脂,并采用单因素法对Amberlyst A26树脂柱高、流速和盐酸浓度进行了优化,确定了最佳实验条件分别为柱高10cm、流速3mL/min和盐酸浓度0.2mol/L。同时对XRF分析方法进行了方法学验证。XRF能谱仪采用Mo靶激发,新型SDD探测器,结合优化的薄样技术,基本消除基体效应,可用内标法定量;仪器检出限（LLD）Pd、Pt、Au分别为0.021、0.019、0.015μg/mL,方法检出限（LDM）分别为0.066、0.062、0.050μg/mL;采用11种元素的混合标准测得RSD在1.6%7.5%之间。所测金矿样品的结果与国标法结果一致,铜阳极泥的测定结果与ICP-MS法结果基本一致。
关键词：Amberlyst A26树脂;金;铂;钯;能量色散X射线荧光光谱法;金矿;铜阳极泥;薄样技术;
