简介概要

电子束辐照对聚酰亚胺电气性能的影响

来源期刊:绝缘材料2006年第6期

论文作者:马丽婵 张要强 刘晓东 郑晓泉

关键词:聚酰亚胺; 纳米改性; 电子辐射; 介电性能;

摘    要:研究了高能电子束辐照对聚酰亚胺薄膜(PI)试样电气性能的影响.实验发现高能电子束辐照后PI的介电常数减小,电导率增大,电损耗增大.利用原位聚合法把70纳米Al2O3粒子引入到PI薄膜中,对材料进行改性,实验发现改性后PI薄膜抗高能电子束辐射能力得到加强.

详情信息展示

电子束辐照对聚酰亚胺电气性能的影响

马丽婵1,张要强1,刘晓东1,郑晓泉1

(1.西安交通大学,电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049)

摘要:研究了高能电子束辐照对聚酰亚胺薄膜(PI)试样电气性能的影响.实验发现高能电子束辐照后PI的介电常数减小,电导率增大,电损耗增大.利用原位聚合法把70纳米Al2O3粒子引入到PI薄膜中,对材料进行改性,实验发现改性后PI薄膜抗高能电子束辐射能力得到加强.

关键词:聚酰亚胺; 纳米改性; 电子辐射; 介电性能;

【全文内容正在添加中】

<上一页 1 下一页 >

相关论文

  • 暂无!

相关知识点

  • 暂无!

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号