磁性薄膜高频磁导率测量方法及其研究进展
来源期刊：磁性材料及器件2008年第6期
论文作者：钟智勇 付若鸿 吴卫波 张怀武
关键词：磁性薄膜; GHz; 复磁导率; 测量;
摘 要：磁性薄膜广泛应用于信息存储、电磁兼容、磁传感器和微波通讯设备等众多领域,其高频复磁导率谱的准确测量是磁性薄膜研究中的一个重要课题.目前薄膜材料复磁导率的常用测量方法包括微波谐振腔法、检测线圈法和传输/反射法等.首先简要介绍了谐振腔法和检测线圈法,然后重点介绍了微波频率(GHz)下磁性薄膜传输/反射法磁导率测量近年来最新研究进展.
钟智勇1，付若鸿1，吴卫波1，张怀武1
(1.电子科技大学,电子薄膜与集成器件国家重点实验室,四川成都,610054)
摘要:磁性薄膜广泛应用于信息存储、电磁兼容、磁传感器和微波通讯设备等众多领域,其高频复磁导率谱的准确测量是磁性薄膜研究中的一个重要课题.目前薄膜材料复磁导率的常用测量方法包括微波谐振腔法、检测线圈法和传输/反射法等.首先简要介绍了谐振腔法和检测线圈法,然后重点介绍了微波频率(GHz)下磁性薄膜传输/反射法磁导率测量近年来最新研究进展.
关键词:磁性薄膜; GHz; 复磁导率; 测量;
【全文内容正在添加中】
