基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响
来源期刊：稀有金属材料与工程2007年第5期
论文作者：漆汉宏 王天生 李林 田永君 彭炜
关键词：YBCO薄膜; 微观结构; 斜切基片; 超导电性;
摘 要：研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响.采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°～6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜.用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻-温度关系,从而确定薄膜的超导电性能.结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大.
漆汉宏1，王天生1，李林2，田永君1，彭炜2
(1.燕山大学,亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室,河北,秦皇岛,066004;
2.中国科学院物理研究所,超导国家重点实验室,北京,100080)
摘要:研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响.采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°～6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜.用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻-温度关系,从而确定薄膜的超导电性能.结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大.
关键词:YBCO薄膜; 微观结构; 斜切基片; 超导电性;
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