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高精度扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙特性的研究

来源期刊：理化检验物理分册2006年第3期

论文作者：刘济春李旭杨学恒彭光含辛洪政

关键词：扫描隧道显微镜; 扫描隧道谱; 隧道电流; 禁带宽度;

摘要：用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱.该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善.由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0.4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低.

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刘济春¹，李旭¹，杨学恒¹，彭光含²，辛洪政¹

(1.重庆大学数理学院,重庆,400044;
2.湖南文理学院物电系,常德,415000)

摘要:用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱.该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善.由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0.4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低.

关键词:扫描隧道显微镜; 扫描隧道谱; 隧道电流; 禁带宽度;

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