纳米粒子对聚酰亚胺薄膜电晕老化形态的影响
来源期刊：绝缘材料2007年第5期
论文作者：施杰 姜其斌 李鸿岩 刘斌
关键词：纳米粒子; 电晕; 老化; 聚酰亚胺; 薄膜;
摘 要：为了研究无机纳米氧化物在提高聚合物耐电晕性能方面所起的作用,采用高分辩率光学显微镜比较了聚酰亚胺(PI)薄膜和纳米Al2O3填充聚酰亚胺薄膜在相同条件下的老化形貌,发现纯PI表面老化形态早期为山谷状,随着时间的延长山谷的深度增加,最终形成凹坑;而PI-Al2O3复合薄膜则呈浅凹坑状,随着老化的进行最终发展成浅的由纳米粒子组成的蜂窝状孔洞,且老化速度显著降低.
施杰1，姜其斌2，李鸿岩2，刘斌1
(1.西安交通大学,电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049;
2.株洲时代新材料科技股份有限公司,湖南,株洲,412100)
摘要:为了研究无机纳米氧化物在提高聚合物耐电晕性能方面所起的作用,采用高分辩率光学显微镜比较了聚酰亚胺(PI)薄膜和纳米Al2O3填充聚酰亚胺薄膜在相同条件下的老化形貌,发现纯PI表面老化形态早期为山谷状,随着时间的延长山谷的深度增加,最终形成凹坑;而PI-Al2O3复合薄膜则呈浅凹坑状,随着老化的进行最终发展成浅的由纳米粒子组成的蜂窝状孔洞,且老化速度显著降低.
关键词:纳米粒子; 电晕; 老化; 聚酰亚胺; 薄膜;
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