高纯二氧化锗中痕量杂质的ICP-MS法测定
来源期刊：分析试验室2006年第7期
论文作者：刘红 赵春华 刘英
文章页码：64 - 66
关键词：高纯二氧化锗;ICP-MS;痕量杂质;
摘 要：建立了高纯二氧化锗中痕量杂质Mg、Al、Ni、Cu、Zn、In、Pb的ICP-MS测定方法。选择了仪器最佳工作条件,研究了锗基体对被测元素的干扰,方法回收率为94%114%,RSD为11.1%57%。
刘红，赵春华，刘英
摘 要：建立了高纯二氧化锗中痕量杂质Mg、Al、Ni、Cu、Zn、In、Pb的ICP-MS测定方法。选择了仪器最佳工作条件,研究了锗基体对被测元素的干扰,方法回收率为94%114%,RSD为11.1%57%。
关键词：高纯二氧化锗;ICP-MS;痕量杂质;
