基于透反射光谱确定Te/TeO2-SiO2复合薄膜的光学常数
来源期刊：功能材料2015年第23期
论文作者：甘平 辜敏 申晓青 陈卓 李东链 张宇 鲜晓东
文章页码：23031 - 23035
关键词：光学常数;薄膜;透反射光谱法;TeO2;
摘 要：基于电化学诱导sol-gel方法制备Te/TeO2-SiO2复合薄膜的紫外-近红外投射光谱实验,采用透反射光谱测量法推导出Te/TeO2-SiO2复合薄膜在2001100nm波长范围内的光学常数,包括光学透过率、反射率、线性吸收系数、消光系数、线性折射率及禁带宽度。研究发现,复合薄膜具有高折射率（1.932.03）,测试波长为1064nm,低吸收和禁带宽度宽（3.073.40eV）等光学特性,同时薄膜的光学常数对制备过程中的重要参数制备电压表现出强烈的依赖性,制备电压越大薄膜的光学透过率降低,薄膜厚度增大,线性折射率增大。
甘平1,2，辜敏1，申晓青2，陈卓2，李东链2，张宇2，鲜晓东3
1. 重庆大学煤矿灾害动力学与控制国家重点实验室复杂煤气层瓦斯抽采国家地方联合工程实验室2. 重庆大学通信工程学院3. 重庆大学自动化学院
摘 要：基于电化学诱导sol-gel方法制备Te/TeO2-SiO2复合薄膜的紫外-近红外投射光谱实验,采用透反射光谱测量法推导出Te/TeO2-SiO2复合薄膜在2001100nm波长范围内的光学常数,包括光学透过率、反射率、线性吸收系数、消光系数、线性折射率及禁带宽度。研究发现,复合薄膜具有高折射率（1.932.03）,测试波长为1064nm,低吸收和禁带宽度宽（3.073.40eV）等光学特性,同时薄膜的光学常数对制备过程中的重要参数制备电压表现出强烈的依赖性,制备电压越大薄膜的光学透过率降低,薄膜厚度增大,线性折射率增大。
关键词：光学常数;薄膜;透反射光谱法;TeO2;
