Cyanex272负载树脂分离-ICP-MS法测定高纯氧化钕中痕量稀土杂质

来源期刊：分析试验室2004年第8期

论文作者：李继东 伍星 郑永章

文章页码：37 - 40

关键词：电感耦合等离子体质谱;高纯Nd2O3;稀土杂质;

摘    要：采用萃取色谱法,以Cyanex272负载树脂为固定相制成微型分离柱,以HCl为淋洗液,研究了Nd2O3基体的分离条件,分离周期为35min。建立了分离Nd后测定Tb、Dy、Ho以及内标补偿法直接测定其它稀土杂质的高纯Nd2O3中14个稀土杂质的ICP MS分析方法。方法检出限为0.03～0.30μg g,加标回收率为91.0%～110.0%,相对标准偏差为2.0%～4.9%。方法可满足快速测定99 999%Nd2O3中14个稀土杂质的要求。