退火对CdS/SiO2介孔组装体系吸收边的影响
来源期刊：复合材料学报2003年第2期
论文作者：杨一军 毕会娟 张立德 阚彩侠
关键词：CdS纳米颗粒; 介孔组装体系; 吸收边;
摘 要：本文作者通过溶胶-凝胶法获得块材CdS纳米颗粒/介孔SiO2组装体系(CdS/SiO2)块体样品,室温下的拉曼谱中观察到CdS的两个特征峰;在氮气和空气气氛中退火处理后,发现吸收边位置随复合量和退火温度不同而移动.经计算,CdS颗粒粒径的理论值与其自由激子半径相当,说明吸收边的移动起因于量子限域效应.
杨一军1，毕会娟2，张立德2，阚彩侠2
(1.安徽淮北煤炭师范学院,物理系,淮北,235000;
2.中科院,固体物理研究所,安徽,合肥,230031)
摘要:本文作者通过溶胶-凝胶法获得块材CdS纳米颗粒/介孔SiO2组装体系(CdS/SiO2)块体样品,室温下的拉曼谱中观察到CdS的两个特征峰;在氮气和空气气氛中退火处理后,发现吸收边位置随复合量和退火温度不同而移动.经计算,CdS颗粒粒径的理论值与其自由激子半径相当,说明吸收边的移动起因于量子限域效应.
关键词:CdS纳米颗粒; 介孔组装体系; 吸收边;
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