掺杂少量W对SiO2介孔分子筛结构的影响
来源期刊:有色金属2009年第2期
论文作者:李洁 苏赵辉
关键词:无机非金属材料; 介孔分子筛; 三氧化钨; 二氧化硅; 掺杂; 模板剂; 表面活性剂;
摘 要:以正硅酸乙酯(TEOS)为硅源、以钨酸钠(Na2WO4·2H2O)为钨源、以非离子表面活性剂三嵌段共聚物P123为模板剂,采用水热法一步合成少量W掺杂的二氧化硅介孔分子筛,并通过XRD,HRTEM,FT-IR等表征手段详细考察了所合成的介孔分子筛的结构以及钨物种在分子筛材料中的存在状态.结果表明,当WO3的含量小于10%时,介孔分子筛仍保持优良的孔道结构,且材料中的钨物种是高度分散的.
李洁1,苏赵辉1
(1.中南大学,化学化工学院,长沙,410083)
摘要:以正硅酸乙酯(TEOS)为硅源、以钨酸钠(Na2WO4·2H2O)为钨源、以非离子表面活性剂三嵌段共聚物P123为模板剂,采用水热法一步合成少量W掺杂的二氧化硅介孔分子筛,并通过XRD,HRTEM,FT-IR等表征手段详细考察了所合成的介孔分子筛的结构以及钨物种在分子筛材料中的存在状态.结果表明,当WO3的含量小于10%时,介孔分子筛仍保持优良的孔道结构,且材料中的钨物种是高度分散的.
关键词:无机非金属材料; 介孔分子筛; 三氧化钨; 二氧化硅; 掺杂; 模板剂; 表面活性剂;
【全文内容正在添加中】