烧制工艺对氧化镁活性的影响
来源期刊：绝缘材料2003年第3期
论文作者：任庆利 陈维 刘斌 陈寿田
关键词：氧化镁; 活性; 烧制工艺; 镁铝水滑石;
摘 要：为获取高活性氧化镁,以提供镁铝水滑石阻燃剂制备的实验依据,采用X射线衍射研究烧制工艺与氧化镁的结晶状态的关系,结果发现烧制温度和烧制时间对氧化镁的活性有较大的影响,而不同活性的氧化镁对镁铝水滑石有决定性影响.在500℃～750℃的范围内,镁盐的烧制温度为500℃～550℃,保温时间2h,这样的氧化镁的活性最大,用其制备镁铝水滑石试样纯度较高.
任庆利1，陈维1，刘斌1，陈寿田1
(1.电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安交通大学,陕西,西安,710049)
摘要:为获取高活性氧化镁,以提供镁铝水滑石阻燃剂制备的实验依据,采用X射线衍射研究烧制工艺与氧化镁的结晶状态的关系,结果发现烧制温度和烧制时间对氧化镁的活性有较大的影响,而不同活性的氧化镁对镁铝水滑石有决定性影响.在500℃～750℃的范围内,镁盐的烧制温度为500℃～550℃,保温时间2h,这样的氧化镁的活性最大,用其制备镁铝水滑石试样纯度较高.
关键词:氧化镁; 活性; 烧制工艺; 镁铝水滑石;
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