直接粉末进样-能量色散X射线荧光光谱法测定地质样品中多种组分

来源期刊：冶金分析2017年第3期

论文作者：龚仓

文章页码：21 - 28

关键词：能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF);地质样品;直接粉末进样;

摘    要：为提高现场快速分析的能力,充分发挥小型实验室设备的功能,实验采用能量色散X射线荧光光谱仪,直接使用粉末样品分析常规地质样品中的多种组分。用理论α系数和康普顿内标校正基体效应和谱线重叠干扰,直接将粉碎加工到200目（74μm）的样品放在液体塑料盒中进行测量。对地质样品标准物质进行样品用量试验表明,样品用量大于3.0g时,测量结果趋于稳定或者在认定值的准确度控制范围内变动,实验时选取4.0g作为样品用量。精密度试验表明,除组分La、Ce、Sn、W、U和Na₂O的相对标准偏差（RSD,n=12）大于10%外,其他组分的RSD都小于10%,尤其是组分Ti、Mn、Co、Rb、Sr、SiO₂、K₂O、CaO和Fe₂O₃的RSD都在1%以下。通过对未参加回归的标准物质的验证,参照《地球化学普查（比例尺1∶50 000）规范样品分析技术要求补充规定》,该法对常规地质样品可定量分析Ti、V、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Th、U、K₂O、CaO和Fe₂O₃等19种组分,近似定量分析Ce和W,半定量分析Cr、La、Sn、SiO₂和Na₂O。由于将样品放入液体塑料盒中进行测量,无需压片制样设备,该法适合野外现场分析应用。