SiO2/B2O3质量比对低介电封接玻璃性能的影响
来源期刊：材料导报2019年第S1期
论文作者：操芳芳 马立云 曹欣 王魏巍 仲召进 李金威 高强
文章页码：199 - 411
关键词：低介电常数;低介电损耗;封接玻璃;SiO2/B2O3;
摘 要：采用高温熔融法以SiO2-B2O3-Al2O3-R2O为体系制备了一系列低介电常数（3.92≤εr≤4.11）、低介电损耗(5×10-4≤tanδ≤12×10-4)的封接玻璃。运用红外光谱（FTIR）、拉曼光谱、膨胀系数测定仪、弯曲梁高温粘度计、精密阻抗分析仪对样品进行了表征,同时,探讨了SiO2与B2O3的质量比对各样品性能的影响。结果表明,样品的热膨胀系数、介电损耗随着SiO2与B2O3质量比的增大呈现先降低后升高的趋势;而特征温度则相反,其随着SiO2与B2O3质量比的增大呈现先升高后降低的趋势;样品的介电常数随SiO2与B2O3质量比的增大而增大。
操芳芳，马立云，曹欣，王魏巍，仲召进，李金威，高强
摘 要：采用高温熔融法以SiO2-B2O3-Al2O3-R2O为体系制备了一系列低介电常数（3.92≤εr≤4.11）、低介电损耗(5×10-4≤tanδ≤12×10-4)的封接玻璃。运用红外光谱（FTIR）、拉曼光谱、膨胀系数测定仪、弯曲梁高温粘度计、精密阻抗分析仪对样品进行了表征,同时,探讨了SiO2与B2O3的质量比对各样品性能的影响。结果表明,样品的热膨胀系数、介电损耗随着SiO2与B2O3质量比的增大呈现先降低后升高的趋势;而特征温度则相反,其随着SiO2与B2O3质量比的增大呈现先升高后降低的趋势;样品的介电常数随SiO2与B2O3质量比的增大而增大。
关键词：低介电常数;低介电损耗;封接玻璃;SiO2/B2O3;
