GD-MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素

来源期刊：矿冶2013年第S1期

论文作者：李宝城 刘英 李继东 童坚 程紫辉 张金娥 臧慕文

文章页码：149 - 151

关键词：高纯钨;辉光放电质谱法;痕量元素分析;

摘    要：采用辉光放电质谱法（GD-MS）同时测定了高纯钨锭中66种痕量杂质元素。主要杂质元素（K,Ba等）的测定值与电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）定量分析结果经F检验和T检验均验证在显著性水平为10%时,两者无显著性差异。试验表明GD-MS法对高纯钨锭的无标准样品的快速分析有较高的准确度。与ICP-MS法相比,GD-MS能直接分析固体样品,并具有分析元素多、测定范围广、检测限低、分析速度快等众多优点,已被公认为是最佳的高纯金属痕量杂质元素分析方法之一。