熔体组成与PbWO4:Y3+晶体闪烁性能稳定性的关系
来源期刊：无机材料学报2002年第6期
论文作者：殷之文 邵培发 廖晶莹 沈炳孚 谢建军 李长泉 张昕 倪海洪
关键词：钨酸铅; 掺杂; 光产额; 熔体; 辐照硬度;
摘 要：部分PWO:Y3+晶体辐照后光产额升高,并且辐照硬度对退火温度较敏感.本文选取未掺杂及Sb、La3+、Y3+单掺和La3+/Sb、Y3+/Sb双掺的PWO样品进行对照实验,同时选取代表性晶体的顶部急冷料做了X射线荧光主量分析.结果发现:低剂量辐照后光产额升高现象只存在于含Y3+离子的PWO晶体中,并且这类晶体往往存在420nm吸收带;在改进Bridgeman法生长PWO晶体的后期,使熔体保持一定程度的负电性将有利于抑制该现象,即可有效地抑制同样是负电性的间隙氧进入晶体.结合测试数据,本文讨论了该现象的起因和机理,提出了掺杂剂的选择原则.
殷之文1，邵培发1，廖晶莹1，沈炳孚1，谢建军1，李长泉1，张昕1，倪海洪1
(1.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050)
摘要:部分PWO:Y3+晶体辐照后光产额升高,并且辐照硬度对退火温度较敏感.本文选取未掺杂及Sb、La3+、Y3+单掺和La3+/Sb、Y3+/Sb双掺的PWO样品进行对照实验,同时选取代表性晶体的顶部急冷料做了X射线荧光主量分析.结果发现:低剂量辐照后光产额升高现象只存在于含Y3+离子的PWO晶体中,并且这类晶体往往存在420nm吸收带;在改进Bridgeman法生长PWO晶体的后期,使熔体保持一定程度的负电性将有利于抑制该现象,即可有效地抑制同样是负电性的间隙氧进入晶体.结合测试数据,本文讨论了该现象的起因和机理,提出了掺杂剂的选择原则.
关键词:钨酸铅; 掺杂; 光产额; 熔体; 辐照硬度;
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