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Ca2Gd8(SiO4)6O2:Tb3+薄膜的制备及其发光性能研究

来源期刊:稀有金属材料与工程2007年增刊第1期

论文作者:李明亚 林君 李哲 王晓强 齐西伟 韩秀梅

关键词:发光; 薄膜; 溶胶-凝胶; Ca2Gd8(SiO4)6O2;

摘    要:用溶胶-凝胶法制备了Ca2Gd8(SiO4)6O2:Tb3+薄膜,用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)和荧光光谱仪对所得发光薄膜进行了表征.XRD的结果表明薄膜在1000℃完全结晶,并且与标准卡片符合得很好.AFM和SEM的结果表明薄膜表面均匀,没有裂痕,粒子排列紧密,平均直径为90 nm,薄膜的厚度为1.3μm.当用233 nm激发时,Tb3+的发射光谱由蓝光发射和绿光发射两部分组成,前者对应5D3-7FJ(J=6,5,4,其峰值分别位于376,418,440 nm);后者对应5D4-7FJ(J=6,5,4,3,其峰值分别位于490,544,587,623 nm).在Ca2Gd8(SiO4)6O2薄膜基质中,Tb3+的最佳掺杂浓度为Gd3+的9mol%.

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Ca2Gd8(SiO4)6O2:Tb3+薄膜的制备及其发光性能研究

李明亚1,林君2,李哲1,王晓强1,齐西伟1,韩秀梅1

(1.东北大学秦皇岛分校材料科学与工程系,河北,秦皇岛,066004;
2.中国科学院长春应用化学研究所稀土化学与物理开放实验室,吉林,长春,130022)

摘要:用溶胶-凝胶法制备了Ca2Gd8(SiO4)6O2:Tb3+薄膜,用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)和荧光光谱仪对所得发光薄膜进行了表征.XRD的结果表明薄膜在1000℃完全结晶,并且与标准卡片符合得很好.AFM和SEM的结果表明薄膜表面均匀,没有裂痕,粒子排列紧密,平均直径为90 nm,薄膜的厚度为1.3μm.当用233 nm激发时,Tb3+的发射光谱由蓝光发射和绿光发射两部分组成,前者对应5D3-7FJ(J=6,5,4,其峰值分别位于376,418,440 nm);后者对应5D4-7FJ(J=6,5,4,3,其峰值分别位于490,544,587,623 nm).在Ca2Gd8(SiO4)6O2薄膜基质中,Tb3+的最佳掺杂浓度为Gd3+的9mol%.

关键词:发光; 薄膜; 溶胶-凝胶; Ca2Gd8(SiO4)6O2;

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