粉末压片-X射线荧光光谱法测定矿石中钨、锡
来源期刊：理化检验-化学分册2013年第1期
论文作者：郑荣华 刘建坤
文章页码：66 - 68
关键词：X射线荧光光谱法;粉末压片;矿石;钨;锡;
摘 要：将样品与微晶纤维素混匀后置于模具中,以32 MPa压力制成外径40 mm、内径32 mm的样片。用X射线荧光光谱法测定矿石中钨和锡的含量。钨、锡的检出限为4.9,3.8 mg·kg-1。方法用于矿石样品分析,钨和锡的测定值相对标准偏差（n=6）分别为1.7%,0.37%。测定值与国家标准方法测定值相一致。
郑荣华，刘建坤
南京地质矿产研究所
摘 要：将样品与微晶纤维素混匀后置于模具中,以32 MPa压力制成外径40 mm、内径32 mm的样片。用X射线荧光光谱法测定矿石中钨和锡的含量。钨、锡的检出限为4.9,3.8 mg·kg-1。方法用于矿石样品分析,钨和锡的测定值相对标准偏差（n=6）分别为1.7%,0.37%。测定值与国家标准方法测定值相一致。
关键词：X射线荧光光谱法;粉末压片;矿石;钨;锡;
