简介概要

基于遗传算法的磁光记录薄膜的温度特性计算

来源期刊：磁性材料及器件2000年第1期

论文作者：胡煜王可李佐宜

关键词：磁光记录薄膜; 平均场理论; 遗传算法;

摘要：介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.实验证明该算法快速有效, 收剑性好.

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胡煜¹，王可¹，李佐宜¹

(1.华中理工大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074)

摘要:介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.实验证明该算法快速有效, 收剑性好.

关键词:磁光记录薄膜; 平均场理论; 遗传算法;

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