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双面抛光工艺中压力对300 mm硅片表面形貌的影响

来源期刊:稀有金属2006年第2期

论文作者:李耀东 库黎明 王敬 周旗钢

关键词:硅片; 双面抛光; 非接触式光学轮廓仪; 表面形貌;

摘    要:利用非接触式光学轮廓仪研究了双面抛光过程中不同压力下300mm硅片表面形貌的变化,并通过Stribeck曲线进行了探讨.结果表明,双面抛光过程中机械作用的强度随着压力的变化而不同,从而影响抛光后的硅片表面形貌.当硅片表面与抛光垫之间的接触处于固-液混合接触区时,协调机械去除作用与化学腐蚀作用之间的关系,使之达到平衡,可以显著地降低硅片表面的微粗糙度和峰谷值.

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双面抛光工艺中压力对300 mm硅片表面形貌的影响

摘要:利用非接触式光学轮廓仪研究了双面抛光过程中不同压力下300mm硅片表面形貌的变化,并通过Stribeck曲线进行了探讨.结果表明,双面抛光过程中机械作用的强度随着压力的变化而不同,从而影响抛光后的硅片表面形貌.当硅片表面与抛光垫之间的接触处于固-液混合接触区时,协调机械去除作用与化学腐蚀作用之间的关系,使之达到平衡,可以显著地降低硅片表面的微粗糙度和峰谷值.

关键词:硅片; 双面抛光; 非接触式光学轮廓仪; 表面形貌;

Effect of Pressure on Surface Morphology of 300 mm Silicon Wafers during Double-Side Polishing

Abstract:

Key words:

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