简介概要

纳米粒子粒径的测量研究

来源期刊：理化检验物理分册2005年第1期

论文作者：陈志刚顾彩香顾卓明

关键词：纳米粒子; X射线衍射法; 透射电子显微镜法; 测量;

摘要：采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径的测量进行了研究.结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,且两者的测量结果相当一致;纳米粒子实际平均粒径似应在两种方法测定结果之间.

详情信息展示

陈志刚¹，顾彩香¹，顾卓明¹

(1.上海海事大学商船学院,上海,200135)

摘要:采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径的测量进行了研究.结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,且两者的测量结果相当一致;纳米粒子实际平均粒径似应在两种方法测定结果之间.

关键词:纳米粒子; X射线衍射法; 透射电子显微镜法; 测量;

【全文内容正在添加中】