SKP和LEIS技术在电化学腐蚀研究中的应用进展
来源期刊：材料保护2016年第12期
论文作者：王文和 王昌酉 沈溃领
文章页码：64 - 75
关键词：SKP;LEIS;缝隙腐蚀;点蚀;孔蚀;微生物腐蚀;
摘 要：介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展。结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用。展望了两种技术的未来发展趋势。
王文和1,2，王昌酉3，沈溃领1
1. 重庆科技学院安全工程学院2. 重庆市安全生产科学研究院3. 重庆科技学院法政与经贸学院
摘 要：介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展。结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用。展望了两种技术的未来发展趋势。
关键词：SKP;LEIS;缝隙腐蚀;点蚀;孔蚀;微生物腐蚀;
